Charge Trapping Mechanism in Amorphous Si-In-Zn-O Thin-Film Transistors During Positive Bias Stress

Lee, Sang Yeol 2016년
공동연구/유사연구
'Lee, Sang Yeol'의 연구자 점유율
논문점유율 요약
동일주제 총논문수 주제별 연구자 총논문수 연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
5,350 70

37.7%
연구주제 Time-line
'Lee, Sang Yeol'의 발표논문(13)