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Low-Temperature-Processed SiInZnO Thin-Film Transistor Fabricated by Radio Frequency Magnetron Sputtering

Kim, Byoungkeun Lee, Sang Yeol 2018년

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논문상세정보

- 저자 Kim, Byoungkeun Lee, Sang Yeol
- 제어번호 105569185
- 학술지명 Transactions on Electrical and Electronic Materials
- 권호사항 Vol. 19 No. 3 [ 2018 ]
- 발행처 The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
- 발행처 URL http://www.kieeme.or.kr
- 자료유형 학술저널
- 수록면 218-221
- 언어 English
- 출판년도 2018
- 등재정보 KCI등재
- 판매처
- 주제어 Oxide semiconductor Annealing temperature SiInZnO Thin-film transistor X-ray diffraction
- 참고문헌( 0)
유사주제 논문( 4,858)

인용/피인용

Low-Temperature-Processed SiInZnO Thin-Film ...

' Low-Temperature-Processed SiInZnO Thin-Film Transistor Fabricated by Radio Frequency Magnetron Sputtering' 의 주제별 논문영향력

논문영향력 요약
동일주제 총논문수	논문피인용 총횟수	주제별 논문영향력의 평균
주제	응용 물리 Oxide semiconductor annealing temperature siinzno thin-film transistor x-ray diffraction
4,864	0	0.0%

논문영향력
주제		주제별 논문수	주제별 피인용횟수	주제별 논문영향력
주제분류(KDC/DDC)	응용 물리	4,649	0	0.0%
주제어	Oxide semiconductor	22	0	0.0%
	annealing temperature	14	0	0.0%
	siinzno	2	0	0.0%
	thin-film transistor	36	0	0.0%
	x-ray diffraction	141	0	0.0%
계		4,864	0	0.0%
* 다른 주제어 보유 논문에서 피인용된 횟수			0