인기 연구 키워드 :
인기 활용 키워드 :

Influence of Channel Thickness Variation on Temperature and Bias Induced Stress Instability of Amorphous SiInZnO Thin Film Transistors

Lee, Byeong Hyeon Lee, Sang Yeol 2017년

활용도
공유도
영향력

논문상세정보

- 저자 Lee, Byeong Hyeon Lee, Sang Yeol
- 제어번호 103099043
- 학술지명 Transactions on Electrical and Electronic Materials
- 권호사항 Vol. 18 No. 1 [ 2017 ]
- 발행처 The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
- 발행처 URL http://www.kieeme.or.kr
- 자료유형 학술저널
- 수록면 51-54
- 언어 English
- 출판년도 2017
- 등재정보 KCI등재
- 소장기관 고려대학교 과학도서관 영남대학교 중앙도서관 영남대학교 중앙도서관
- 판매처
- 주제어 Activation energy Amorphous SiInZnO Instability Negative bias temperature stress
- 참고문헌( 0)
유사주제 논문( 4,716)

인용/피인용

Influence of Channel Thickness Variation on Tem ...

' Influence of Channel Thickness Variation on Temperature and Bias Induced Stress Instability of Amorphous SiInZnO Thin Film Transistors' 의 주제별 논문영향력

논문영향력 요약
동일주제 총논문수	논문피인용 총횟수	주제별 논문영향력의 평균
주제	응용 물리 Activation energy Amorphous SiInZnO Instability Negative bias temperature stress
4,721	1	0.0%

논문영향력
주제		주제별 논문수	주제별 피인용횟수	주제별 논문영향력
주제분류(KDC/DDC)	응용 물리	4,649	0	0.0%
주제어	Activation energy	33	0	0.0%
	Amorphous SiInZnO	1	0	0.0%
	Instability	37	0	0.0%
	Negative bias temperature str ...	1	0	0.0%
계		4,721	0	0.0%
* 다른 주제어 보유 논문에서 피인용된 횟수			1