연구동향 분석
홈
알림
이용안내
오류접수
API
서비스소개
인기 연구 키워드 :
인기 활용 키워드 :
SiC UMOSFET 구조에 따른 온도 신뢰성 분석
이정연(Jeongyeon Lee)
김광수(Kwang-Soo Kim)
2020년
활용도 Analysis
논문 Analysis
연구자 Analysis
활용도 Analysis
논문 Analysis
연구자 Analysis
이정연(Jeongyeon Lee)
김광수(Kwang-Soo Kim)
연구자명
연구자명
연구자명
활용도
공유도
영향력
연구자정보
저자
이정연(Jeongyeon Lee)
발표논문(1)
발표논문 보기→
공동연구자(1)
김광수(Kwang-Soo Kim)
1건
유사연구자 (20)
※활용도순 상위 20명
An, Jae-In
1건
Cha, Ho Young
2건
Cho, Myung-Yeon
1건
Cho, Seulki
1건
Kim, Sung Youp
1건
Koo, Sang-Mo
5건
Koo, Sang-Mo
4건
Oh, Jong-Min
1건
구상모
5건
구상모
4건
김성엽
1건
김성협
1건
박성준
1건
안재인
1건
오종민
1건
이상규
1건
이승민
1건
이재길
1건
이태섭
2건
조슬기
1건
공동연구/유사연구
이정연(Jeongyeon Lee)
'이정연(Jeongyeon Lee)'의 연구자 점유율
논문점유율 요약
동일주제 총논문수
주제별 연구자 총논문수
연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
107
6
13.3%
자세히
연구자 점유율
주제
주제별 논문수
주제별 연구자논문수
주제별 연구자점유율
주제어
Temperature variation effect
3
1
33.3%
transconductance
5
1
20.0%
threshold voltage shift
6
1
16.7%
on resistance
15
1
6.7%
breakdown voltage
24
1
4.2%
4h-sic
54
1
1.9%
계
107
6
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수
0
닫기
연구주제 Time-line
'이정연(Jeongyeon Lee)'
의 발표논문(1)
SiC UMOSFET 구조에 따른 온도 신뢰성 분석
김광수(Kwang-Soo Kim)
이정연(Jeongyeon Lee)
한국전기전자학회
[2020]