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Yoon, Geonju

연구자정보

- 저자 Yoon, Geonju
- 발표논문( 3)
공동연구자( 23)
- Kim, Jaemin 3건
- Kim, Jinseok 3건
- Park, Jinsu 3건
- Bae, Sangwoo 2건
- Kwon, Keewon 2건
- Yi, Junsin 2건
- Agrawal, Khushabu 1건
- Cho, Eun-Chel 1건
- Cho, Jaehyun 1건
- Junsin, Yi 1건
- Lee, Youn-Jung 1건
- Pae, Sangwoo 1건
- Patil, Vilas 1건
- Showdhury, Sanchari 1건
- 권기원 1건
- 김재민 1건
- 김진석 1건
- 박진수 1건
- 배상우 1건
- 윤건주 1건
- 이윤정 1건
- 이준신 1건
- 조재현 1건
유사연구자 ( 20)※활용도순 상위 20명
- Jong-duk Choi 2건
- Lee, Youn-Jung 1건
- Yi, Junsin 2건
- 김재범 1건
- 김주년 1건
- 김지현 1건
- 박상헌 1건
- 박세연 1건
- 박소연 1건
- 박용호 1건
- 안설빈 2건
- 안지언 1건
- 원권연(Kwon Yeon Weon) 1건
- 이기청(Lee Ki Chung) 1건
- 이윤정 1건
- 이재은 1건
- 이준신 2건
- 임희성 1건
- 조용선 2건
- 황선혜 2건

연구자관계도

'Yoon, Geonju'의 연구자 점유율

논문점유율 요약
동일주제 총논문수	주제별 연구자 총논문수	연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
5,260	16	27.1%

연구자 점유율
주제		주제별 논문수	주제별 연구자논문수	주제별 연구자점유율
주제분류(KDC/DDC)	응용 물리	4,649	3	0.1%
주제어	Lattice temperature	1	1	100.0%
	Self heating effects	1	1	100.0%
	Channel hot electron	3	1	33.3%
	Drain avalanche hot carrier	3	1	33.3%
	Impact ionization	3	1	33.3%
	finfets	3	1	33.3%
	Bulk FinFET	5	1	20.0%
	Hot carrier effect	5	1	20.0%
	oxide tft	24	1	4.2%
	passivation	39	1	2.6%
	igzo	62	1	1.6%
	thermal resistance	64	1	1.6%
	Stability	398	1	0.3%
계		5,260	16
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수			0

'Yoon, Geonju'의 발표논문(3)

다양한 Passivation 물질에 따른 IGZO TFT Stability 개선 방법
Bae, Sangwoo 조재현 이준신 이윤정 윤건주 배상우 박진수 김진석 김재민 권기원 Yoon, Geonju Yi, Junsin Park, Jinsu Lee, Youn-Jung Kwon, Keewon Kim, Jinseok Kim, Jaemin Cho, Jaehyun 한국전기전자재료학회 [2020]
Research for Hot Carrier Degradation in N-Type Bulk FinFETs
Bae, Sangwoo Yoon, Geonju Yi, Junsin Showdhury, Sanchari Park, Jinsu Kwon, Keewon Kim, Jinseok Kim, Jaemin The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers [2020]
Self Heating Effects in Sub-nm Scale FinFETs
Agrawal, Khushabu Yoon, Geonju Patil, Vilas Park, Jinsu Pae, Sangwoo Kim, Jinseok Kim, Jaemin Junsin, Yi Cho, Eun-Chel The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers [2020]