논문상세정보
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- 저자 Park, Jinsu Showdhury, Sanchari Yoon, Geonju Kim, Jaemin Kwon, Keewon Bae, Sangwoo Kim, Jinseok Yi, Junsin
- 제어번호 106827124
- 학술지명 전기전자재료학회논문지
- 권호사항 Vol. 33 No. 3 [ 2020 ]
- 발행처 The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
- 자료유형 학술저널
- 수록면 169-172
- 언어 English
- 출판년도 2020
- 등재정보 KCI등재
- 소장기관 남서울대학교 성암기념중앙도서관
- 판매처
- 주제어 Bulk FinFET Channel hot electron Drain avalanche hot carrier Hot carrier effect Impact ionization
