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Research for Hot Carrier Degradation in N-Type Bulk FinFETs

Park, Jinsu Showdhury, Sanchari Yoon, Geonju Kim, Jaemin Kwon, Keewon Bae, Sangwoo Kim, Jinseok Yi, Junsin 2020년

활용도
공유도
영향력

연구자정보

- 저자 Bae, Sangwoo
- 발표논문(2)
  발표논문 보기→
공동연구자(18)
- Kim, Jaemin 2건
- Kim, Jinseok 2건
- Kwon, Keewon 2건
- Park, Jinsu 2건
- Yi, Junsin 2건
- Yoon, Geonju 2건
- Cho, Jaehyun 1건
- Lee, Youn-Jung 1건
- Showdhury, Sanchari 1건
- 권기원 1건
- 김재민 1건
- 김진석 1건
- 박진수 1건
- 배상우 1건
- 윤건주 1건
- 이윤정 1건
- 이준신 1건
- 조재현 1건
유사연구자 (20)※활용도순 상위 20명
- Jong-duk Choi 2건
- Lee, Youn-Jung 1건
- Yi, Junsin 2건
- 김재범 1건
- 김주년 1건
- 김지현 1건
- 박상헌 1건
- 박세연 1건
- 박소연 1건
- 박용호 1건
- 안설빈 2건
- 안지언 1건
- 원권연(Kwon Yeon Weon) 1건
- 이기청(Lee Ki Chung) 1건
- 이윤정 1건
- 이재은 1건
- 이준신 2건
- 임희성 1건
- 조용선 2건
- 황선혜 2건

공동연구/유사연구

'Bae, Sangwoo'의 연구자 점유율

논문점유율 요약
동일주제 총논문수	주제별 연구자 총논문수	연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
5,191	11	14.5%

연구자 점유율
주제		주제별 논문수	주제별 연구자논문수	주제별 연구자점유율
주제분류(KDC/DDC)	응용 물리	4,649	2	0.0%
주제어	Channel hot electron	3	1	33.3%
	Drain avalanche hot carrier	3	1	33.3%
	Impact ionization	3	1	33.3%
	Bulk FinFET	5	1	20.0%
	Hot carrier effect	5	1	20.0%
	oxide tft	24	1	4.2%
	passivation	39	1	2.6%
	igzo	62	1	1.6%
	Stability	398	1	0.3%
계		5,191	11
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수			0

연구주제 Time-line

'Bae, Sangwoo'의 발표논문(2)

다양한 Passivation 물질에 따른 IGZO TFT Stability 개선 방법
Bae, Sangwoo 조재현 이준신 이윤정 윤건주 배상우 박진수 김진석 김재민 권기원 Yoon, Geonju Yi, Junsin Park, Jinsu Lee, Youn-Jung Kwon, Keewon Kim, Jinseok Kim, Jaemin Cho, Jaehyun 한국전기전자재료학회 [2020]
Research for Hot Carrier Degradation in N-Type Bulk FinFETs
Bae, Sangwoo Yoon, Geonju Yi, Junsin Showdhury, Sanchari Park, Jinsu Kwon, Keewon Kim, Jinseok Kim, Jaemin The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers [2020]