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Deep Submicron SOI n-채널 MOSFET에서 열전자 효과들의 온도 의존성
박근형(Keun-Hyung Park)
차호일(Ho-Il Cha)
2018년
활용도 Analysis
논문 Analysis
연구자 Analysis
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논문 Analysis
연구자 Analysis
박근형(Keun-Hyung Park)
차호일(Ho-Il Cha)
연구자명
연구자명
연구자명
활용도
공유도
영향력
연구자정보
저자
박근형(Keun-Hyung Park)
발표논문(1)
발표논문 보기→
공동연구자(1)
차호일(Ho-Il Cha)
1건
유사연구자 (20)
※활용도순 상위 20명
Kim, Jinseok
1건
Yi, Junsin
1건
Yoon, Geonju
1건
김태윤(Tae-Yun Kim)
1건
김현재
1건
김형우
1건
박진수
1건
박찬형(Chan Hyeong Park)
1건
안준영
1건
오준
1건
원철호
1건
윤건주
2건
이재선
1건
이준신
2건
전하은
1건
정인영(In-Young Chung)
1건
정헌석
1건
최진수
1건
하주형
1건
홍유덕
1건
공동연구/유사연구
박근형(Keun-Hyung Park)
'박근형(Keun-Hyung Park)'의 연구자 점유율
논문점유율 요약
동일주제 총논문수
주제별 연구자 총논문수
연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
94
5
10.6%
자세히
연구자 점유율
주제
주제별 논문수
주제별 연구자논문수
주제별 연구자점유율
주제어
Hot carrier effect
5
1
20.0%
LDD
5
1
20.0%
soi
13
1
7.7%
mos-fet
34
1
2.9%
scattering
37
1
2.7%
계
94
5
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수
0
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연구주제 Time-line
'박근형(Keun-Hyung Park)'
의 발표논문(1)
Deep Submicron SOI n-채널 MOSFET에서 열전자 효과들의 온도 의존성
박근형(Keun-Hyung Park)
차호일(Ho-Il Cha)
한국정보전자통신기술학회
[2018]