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전자-정공 효과(Core-Hole Effect) 적용에 따른 SiO₂ 고압상들의 전자구조 및 O K-edge X-선 Raman 산란 스펙트럼 계산 결과 분석

김훈 ( Hoon Khim ) 이유수 ( Yoo Soo Yi ) 이성근 ( Sung Keun Lee ) 2017년

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연구자정보

- 저자 김훈 ( Hoon Khim )
- 발표논문(1)
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공동연구자(2)
- 이성근 ( Sung Keun Lee ) 1건
- 이유수 ( Yoo Soo Yi ) 1건
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공동연구/유사연구

김훈 ( Hoon Khim )

'김훈 ( Hoon Khim )'의 연구자 점유율

논문점유율 요약
동일주제 총논문수	주제별 연구자 총논문수	연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
40	12	80.2%

연구자 점유율
주제		주제별 논문수	주제별 연구자논문수	주제별 연구자점유율
주제어	O K-edge XRS spectrum	1	1	100.0%
	O K-edge XRS 스펙트럼	1	1	100.0%
	PDOS)	1	1	100.0%
	core-hole effect	1	1	100.0%
	high pressure polymorphs	1	1	100.0%
	partial density of states (P ...	1	1	100.0%
	고압상	1	1	100.0%
	전자 오비탈 부분 상태 밀도(pa ...	1	1	100.0%
	전자-정공 효과	1	1	100.0%
	ab initio calculations	2	1	50.0%
	제1원리 계산	4	1	25.0%
	sio2	25	1	4.0%
계		40	12
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수			0

연구주제 Time-line

'김훈 ( Hoon Khim )'의 발표논문(1)

전자-정공 효과(Core-Hole Effect) 적용에 따른 SiO<sub>2</sub> 고압상들의 전자구조 및 O K-edge X-선 Raman 산란 스펙트럼 계산 결과 분석
김훈 ( Hoon Khim ) 이유수 ( Yoo Soo Yi ) 이성근 ( Sung Keun Lee ) 한국광물학회 [2017]