Worst Case Sampling Method with Confidence Ellipse for Estimating the Impact of Random Variation on Static Random Access Memory (SRAM)
'Gyo Sub Lee'의 연구자 점유율
논문점유율 요약
동일주제 총논문수 |
주제별 연구자 총논문수 |
연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균) |
2,962 |
20 |
|
연구자 점유율
주제 |
주제별 논문수 |
주제별 연구자논문수 |
주제별 연구자점유율 |
주제분류(KDC/DDC) |
전자공학
|
2,302
|
3
|
|
주제어 |
fd-soimosfet
|
1
|
1
|
|
high-κ/metalgate
|
1
|
1
|
|
junctionlessmosfet
|
1
|
1
|
|
segfet
|
1
|
1
|
|
tri-gatemosfet
|
1
|
1
|
|
random variation
|
3
|
2
|
|
workfunctionvariation
|
2
|
1
|
|
finfet
|
5
|
1
|
|
mosfet
|
24
|
2
|
|
sram
|
22
|
1
|
|
variability
|
96
|
2
|
|
cmos
|
206
|
2
|
|
yield
|
297
|
1
|
|
계 |
|
2,962 |
20 |
|
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수 |
|
0 |
|