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Influence of Channel Thickness Variation on Temperature and Bias Induced Stress Instability of Amorphous SiInZnO Thin Film Transistors

Lee, Byeong Hyeon Lee, Sang Yeol 2017년

활용도
공유도
영향력

연구자정보

- 저자 Lee, Byeong Hyeon
- 발표논문(2)
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공동연구자(2)
- Lee, Sang Yeol 2건
- Han, Sangmin 1건
유사연구자 (20)※활용도순 상위 20명

공동연구/유사연구

Lee, Byeong Hyeon

'Lee, Byeong Hyeon'의 연구자 점유율

논문점유율 요약
동일주제 총논문수	주제별 연구자 총논문수	연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
4,759	9	36.4%

연구자 점유율
주제		주제별 논문수	주제별 연구자논문수	주제별 연구자점유율
주제분류(KDC/DDC)	응용 물리	4,649	2	0.0%
주제어	Amorphous SiInZnO	1	1	100.0%
	Negative bias temperature str ...	1	1	100.0%
	ti/al electrodes	2	1	50.0%
	transmission line method	3	1	33.3%
	Activation energy	33	1	3.0%
	contact resistance	33	1	3.0%
	Instability	37	1	2.7%
계		4,759	9
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수			0

연구주제 Time-line

'Lee, Byeong Hyeon'의 발표논문(2)

Investigation of the Contact Resistance Between Amorphous Silicon-Zinc-Tin-Oxide Thin Film Transistors and Different Electrodes Using the Transmission Line Method
Han, Sangmin Lee, Sang Yeol Lee, Byeong Hyeon 한국전기전자재료학회 [2016]
Influence of Channel Thickness Variation on Temperature and Bias Induced Stress Instability of Amorphous SiInZnO Thin Film Transistors
Lee, Byeong Hyeon Lee, Sang Yeol 한국전기전자재료학회 [2017]