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고온 신뢰성 시험에서 발생된 플렉서블 OLED의 휨 변형
Choa, Sung-Hoon
좌성훈
정훈선
이정훈
이미경
서일웅
Suh, Il-Woong
Lee, Mi Kyoung
Lee, Jung-Hoon
Jung, Hoon-Sun
한국마이크로전자및패키징학회[2016]
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