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셀 레벨에서의 OPTICS 기반 특질 추출을 이용한 칩 품질 예측
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김기현(Ki Hyun Kim)
백준걸(Jun-Geol Baek)
대한산업공학회[2014]
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생존분석을 이용한 디스플레이 FAB의 반송시간 예측모형
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백준걸(Jun-Geol Baek)
한바울(Paul Han)
대한산업공학회[2014]
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MCSVM을 이용한 반도체 공정데이터의 과소 추출 기법
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김준석(Jun Seok Kim)
백준걸(Jun-Geol Baek)
박정술(Cheong-Sool Park)
박승환(Seung Hwan Park)
박새롬(Sae-Rom Pak)
대한산업공학회[2014]
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다중공선성과 불균형분포를 가지는 공정데이터의 분류 성능 향상에 관한 연구
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김준석(Jun Seok Kim)
이채진(Chae Jin Lee)
백준걸(Jun-Geol Baek)
박정술(Cheong-Sool Park)
대한산업공학회[2015]
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반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론
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박승환(Seung Hwan Park)
유영지(Youngji Yoo)
안대웅(Daewoong An)
백준걸(Jun-Geol Baek)
대한산업공학회[2015]
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관리도 성능평가모형을 통한 관리한계선 갱신주기 탐지기법
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김성식(Sung-Shick Kim)
백준걸(Jun-Geol Baek)
박정술(Cheong-Sool Park)
김준석(Jun Seok Kim)
김종우(Jongwoo Kim)
대한산업공학회[2014]
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