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Muhammad Saqlain
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연구자정보
저자
Muhammad Saqlain
발표논문( 1)
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유사연구자 ( 20)
※활용도순 상위 20명
Kim, Soo-Hyun
3건
김범준(Beom-Joon Kim)
1건
김영준
1건
김희숙(Hye-Suk Kim)
1건
류미영
1건
박지훈
1건
선영규
4건
송명남
3건
오진선
1건
이민준
1건
이창기(Changki Lee)
1건
이태로
1건
장민석(Min-Seok Jang)
1건
장진수
1건
조양현
1건
차상육(Cha, Sang-Yook)
2건
차재광
1건
천인국
1건
최희식
1건
한선관
1건
연구자관계도
Muhammad Saqlain
'Muhammad Saqlain'의 연구자 점유율
논문점유율 요약
동일주제 총논문수
주제별 연구자 총논문수
연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
2,173
6
50.3%
자세히
연구자 점유율
주제
주제별 논문수
주제별 연구자논문수
주제별 연구자점유율
주제어
Patterns Recognition
1
1
100.0%
Wafer Map Defect Inspection
1
1
100.0%
Wafer Maps
1
1
100.0%
Data Augmentation
62
1
1.6%
Convolutional Neural Networ ...
320
1
0.3%
Deep Learning
1,788
1
0.1%
계
2,173
6
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수
0
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'Muhammad Saqlain'
의 발표논문(1)
A Convolutional Neural Network Model for Wafer Map Defect Identification in Semiconductor Manufacturing Process = 반도체 제조 공정에서 웨이퍼 맵 결함 식별을 위한 컨볼루션 신경망 모델
Muhammad Saqlain
충북대학교
[2021]