Method to Prevent the Malfunction Caused by the Transformer Magnetizing Inrush Current using IEC 61850-based IEDs and Dynamic Performance Test using RTDS Test-bed

공동연구/유사연구
'Hae-Gweon Kang'의 연구자 점유율
논문점유율 요약
동일주제 총논문수 주제별 연구자 총논문수 연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
88 7

47.2%
연구주제 Time-line
'Hae-Gweon Kang'의 발표논문(2)