TFT-LCD 패널 영상에서 결함 가능성에 따른 순차적 결함 검출

이승민(SeungMin Lee) 김태훈(Tae-Hun Kim) 박길흠(Kil-Houm Park) 2014년

논문상세정보

인용/피인용

논문영향력 요약
동일주제 총논문수	논문피인용 총횟수	주제별 논문영향력의 평균
주제	전자공학 tft-lcd 결함 검출 순차적 검출 한도결함
2,330	0	0.0%

논문영향력
주제		주제별 논문수	주제별 논문영향력
주제분류(KDC/DDC)	전자공학	2,302	0.0%
주제어	tft-lcd	13	0.0%
	결함 검출	15	0.0%
	순차적 검출	4	0.0%
	한도결함	1	0.0%
계		2,335	0.0%
* 다른 주제어 보유 논문에서 피인용된 횟수

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N. Otsu IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics 9 (1) : 62 ~ 66 [1979]