반도체 불량원인 분석을 위한 딥뉴럴네트워크 기반의 패치 이미지 병합 시스템

논문상세정보
' 반도체 불량원인 분석을 위한 딥뉴럴네트워크 기반의 패치 이미지 병합 시스템' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • failure analysis
  • feature extraction
  • feature matching
  • high-resolution chip images
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
160 0

0.0%