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Fourier Filter를 이용한 비전 기반 반도체 Wafer 결함 검출

권용백(Kwon Yongbaek) 김양중(Yangjung Kim) 2020년

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논문상세정보

- 저자 권용백(Kwon Yongbaek) 김양중(Yangjung Kim)
- 제어번호 107162545
- 학술지명 한국통신학회 학술대회논문집
- 권호사항 Vol. 2020 No. 11 [ 2020 ]
- 발행처 한국통신학회
- 발행처 URL http://www.kics.or.kr
- 자료유형 학술저널
- 수록면 387-389 ( 3쪽)
- 언어 Korean
- 출판년도 2020
- 판매처 누리미디어
- 참고문헌( 0)
유사주제 논문( 0)

인용/피인용

Fourier Filter를 이용한 비전 기반 반도체 Wafer 결 ...