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SiC UMOSFET 구조에 따른 온도 신뢰성 분석
이정연
김광수
Lee, Jeongyeon
Kim, Kwang-Soo
2020년
활용도 Analysis
논문 Analysis
연구자 Analysis
활용도 Analysis
논문 Analysis
연구자 Analysis
활용도
공유도
영향력
논문상세정보
저자
이정연
김광수
Lee, Jeongyeon
Kim, Kwang-Soo
주제어
4H-SiC
Temperature variation effect
breakdown voltage
on resistance
threshold voltage shift
transconductance
참고문헌( 0)
유사주제 논문( 4,749)
응용 물리 4,648건
4h-sic 53건
breakdown voltage 23건
on resistance 14건
threshold voltage shift 5건
transconductance 4건
Temperature variation effect 2건
인용/피인용
SiC UMOSFET 구조에 따른 온도 신뢰성 분석
' SiC UMOSFET 구조에 따른 온도 신뢰성 분석' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 요약
주제
응용 물리
4h-sic
Temperature variation effect
breakdown voltage
on resistance
threshold voltage shift
transconductance
동일주제 총논문수
논문피인용 총횟수
주제별 논문영향력의 평균
4,756
0
0.0%
자세히
주제별 논문영향력
논문영향력
주제
주제별 논문수
주제별 피인용횟수
주제별 논문영향력
주제분류(KDC/DDC)
응용 물리
4,649
0
0.0%
주제어
4h-sic
54
0
0.0%
Temperature variation effect
3
0
0.0%
breakdown voltage
24
0
0.0%
on resistance
15
0
0.0%
threshold voltage shift
6
0
0.0%
transconductance
5
0
0.0%
계
4,756
0
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* 다른 주제어 보유 논문에서 피인용된 횟수
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