머신러닝을 이용한 반도체 웨이퍼 평탄화 공정품질 예측 및 해석 모형 개발

논문상세정보
' 머신러닝을 이용한 반도체 웨이퍼 평탄화 공정품질 예측 및 해석 모형 개발' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • Machine Learning
  • Process Quality Interpretation
  • classification
  • cmp
  • prediction
  • wafer
  • 공정 품질 해석
  • 머신 러닝
  • 분류
  • 예측
  • 웨이퍼
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
4,176 0

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