연구동향 분석

Analysis of Gate-Oxide Breakdown in CMOS Combinational Logics

Kim, Kyung Ki 2019년

논문상세정보
인용/피인용
' Analysis of Gate-Oxide Breakdown in CMOS Combinational Logics' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • 정밀한 기기와 다른 장치
  • TDDB
  • aging effect
  • gate-oxide breakdown
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
308 0

0.0%