Analysis of Deep-Trap States in GaN/InGaN Ultraviolet Light-Emitting Diodes after Electrical Stress
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저자
Seonghoon Jeong
Hyunsoo Kim
Sung-Nam Lee
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제어번호
105974575
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학술지명
THE JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY
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권호사항
Vol.
73
No.
12
[
2018
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발행처
한국물리학회
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자료유형
학술저널
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수록면
1879-1883
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언어
English
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출판년도
2018
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등재정보
KCI등재
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소장기관
호서대학교(아산) 학술지원과
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판매처
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Analysis of Deep-Trap States in GaN/InGaN Ultraviolet Light-Emitting Diodes after Electrical Stress' 의 참고문헌
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