논문상세정보
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- 저자 신동기 장경수 박희준 김정수 박중현 이준신 Shin, Donggi Jang, Kyungsoo Phu, Nguyen Thi Cam Park, Heejun Kim, Jeongsoo Park, Joonghyun Yi, Junsin
- 제어번호 105606797
- 학술지명 전기전자재료학회논문지
- 권호사항 Vol. 31 No. 6 [ 2018 ]
- 발행처 한국전기전자재료학회
- 자료유형 학술저널
- 수록면 372-376
- 언어 Korean
- 출판년도 2018
- 등재정보 KCI등재
- 소장기관 고려대학교 과학도서관 영남대학교 중앙도서관 영남대학교 중앙도서관
- 판매처
- 주제어 Charge trapping Defect creation GIDL current Off state stress Poly-Si TFT
유사주제 논문( 4,648)
