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MOSFET에서 다결정 실리콘 게이트 막의 도핑 농도가 신뢰성에 미치는 영향

박근형 Park, Keun-Hyung 2018년

활용도
공유도
영향력

논문상세정보

- 저자 박근형 Park, Keun-Hyung
- 제어번호 105256527
- 학술지명 전기전자재료학회논문지
- 권호사항 Vol. 31 No. 2 [ 2018 ]
- 발행처 한국전기전자재료학회
- 자료유형 학술저널
- 수록면 74-79
- 언어 Korean
- 출판년도 2018
- 등재정보 KCI등재
- 소장기관 고려대학교 과학도서관
- 판매처
- 주제어 Gate depletion effect Reliability MOS-FET
- 참고문헌( 0)
유사주제 논문( 5,646)

인용/피인용

MOSFET에서 다결정 실리콘 게이트 막의 도핑 농도 ...

' MOSFET에서 다결정 실리콘 게이트 막의 도핑 농도가 신뢰성에 미치는 영향' 의 주제별 논문영향력

논문영향력 요약
동일주제 총논문수	논문피인용 총횟수	주제별 논문영향력의 평균
주제	응용 물리 Gate depletion effect Reliability mos-fet
5,650	0	0.0%

논문영향력
주제		주제별 논문수	주제별 피인용횟수	주제별 논문영향력
주제분류(KDC/DDC)	응용 물리	4,649	0	0.0%
주제어	Gate depletion effect	1	0	0.0%
	Reliability	966	0	0.0%
	mos-fet	34	0	0.0%
계		5,650	0	0.0%
* 다른 주제어 보유 논문에서 피인용된 횟수			0