연구동향 분석

Characterization of the Vertical Position of the Trapped Charge in Charge-trap Flash Memory

Seunghyun Kim Dae Woong Kwon Sang-Ho Lee Sang-Ku Park Youngmin Kim Hyungmin Kim Young Goan Kim Seongjae Cho Byung-Gook Park 2017년

논문상세정보
인용/피인용
' Characterization of the Vertical Position of the Trapped Charge in Charge-trap Flash Memory' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • Charge-trap flash memory
  • charge centroid,charge distribution
  • macro modeling
  • silicon nitride
  • tcad
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
34 0

0.0%