논문상세정보
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- 저자 Kim, Byoungkeun Lee, Sang Yeol
- 제어번호 103099044
- 학술지명 Transactions on Electrical and Electronic Materials
- 권호사항 Vol. 18 No. 1 [ 2017 ]
- 발행처 The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
- 발행처 URL http://www.kieeme.or.kr
- 자료유형 학술저널
- 수록면 55-57
- 언어 English
- 출판년도 2017
- 등재정보 KCI등재
- 소장기관 고려대학교 과학도서관 영남대학교 중앙도서관 영남대학교 중앙도서관
- 판매처
- 주제어 Oxide semiconductor SiZnSnO X-ray diffraction spectroscopy Annealing temperature Thin-film transistor
