ReRAM응용을 위한 Ge₂Sb₂Te₅와 Ge₈Sb₂Te₁₁ 기반 MIM구조 박막의 전기적 특성 연구

장휘종 공헌 여종빈 이현용 Jang, Hwi-Jong Kong, Heon Yeo, Jong-Bin Lee, Hyun-Yong 2017년

논문상세정보

인용/피인용

논문영향력 요약
동일주제 총논문수	논문피인용 총횟수	주제별 논문영향력의 평균
주제	응용 물리 Chalcogenide MIM structure reram
4,720	0	0.0%

논문영향력
주제		주제별 논문수	주제별 논문영향력
주제분류(KDC/DDC)	응용 물리	4,649	0.0%
주제어	Chalcogenide	13	0.0%
	MIM structure	3	0.0%
	reram	55	0.0%
계		4,720	0.0%
* 다른 주제어 보유 논문에서 피인용된 횟수

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