논문상세정보
-
- 저자 안정일 ( Ahn Ji ) 안태호 ( Ahn Th )
- 제어번호 103047986
- 학술지명 한국경영공학회지
- 권호사항 Vol. 22 No. 1 [ 2017 ]
- 발행처 한국경영공학회
- 자료유형 학술저널
- 수록면 61-75 ( 15쪽)
- 언어 Korean
- 출판년도 2017
- 등재정보 KCI등재
- 소장기관 동국대학교 중앙도서관
- 판매처 한국학술정보
- 주제어 Map Pattern Index Principal Component Analysis Semiconductor Quality Management Wafer Bin Map Zonal Analysis EDS Yield
유사주제 논문( 435)
인용/피인용
