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- 저자 이소진 장경수 김태용 이준신 Lee, Sojin Jang, Kyungsoo Nguyen, Cam Phu Thi Kim, Taeyong Yi, Junsin
- 제어번호 102403329
- 학술지명 전기전자재료학회논문지
- 권호사항 Vol. 29 No. 7 [ 2016 ]
- 발행처 한국전기전자재료학회
- 자료유형 학술저널
- 수록면 394-399
- 언어 Korean
- 출판년도 2016
- 등재정보 KCI등재
- 소장기관 영남대학교 중앙도서관 영남대학교 중앙도서관
- 판매처
- 주제어 $CO_2$ ONO structure Pure technical efficiency Technical efficiency Windows Analysis (WDEA) NVM Tunnel oxide Tunneling