연구동향 분석

스펙트럼 분석기를 이용한 2가지 잡음 파라미터 측정방법과 비교

이동현(Dong Hyun Lee) 염경환(Kyung-Whan Yeom) 2015년

논문상세정보
인용/피인용
' 스펙트럼 분석기를 이용한 2가지 잡음 파라미터 측정방법과 비교' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • 6-port network
  • impedancetuner
  • noise figure
  • spectrum analyzer
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
14 0

0.0%

' 스펙트럼 분석기를 이용한 2가지 잡음 파라미터 측정방법과 비교' 의 참고문헌

  • Wave techniques for noise modeling and measurement
    S. W. Wedge IEEE Trans. Microw. Theory Tech 40 (11) [1992]
  • The determination of device noise parameter
    R. Q. Lane Proc. IEEE 57 : 1461 ~ 1462 [1969]
  • PSA Series Spectrum Analyzers, Data Sheet
  • Noise Figure Measurement Accuracy-The Y-Factor Method, Application Note
  • Microwwave Circuit Design A Practical Approach using ADS
    K. -W. Yeom Prentice Hall [2015]
  • IRE standards on methods of measuring noise in linear two ports 1959
    IRE Subcommittee on Noise Proc. IRE 48 : 60 ~ 68 [1960]
  • Determination of the noise parameters of a linear 2-port
    M. S. Gupta Electron. Lett. 6 (17) : 543 ~ 544 [1970]
  • Computer-aided design of low noise microwave circuits
    S. W. Wedge California Institute of Technology [1991]
  • An extraction of two-port noise parameters from measured noise powers using an extended six-port network
    A. -R. Ahmed IEEE Trans. on Microwave Theory and Tech. 62 (10) : 2423 ~ 2434 [2014]
  • 8-포트회로망을 이용한 온-웨이퍼형 DUT의 잡음파라미터 측정
    이동현 한국전자파학회 논문지 25 (8) : 808 ~ 820 [2014]
  • 6-포트 회로망을 이용한 잡음 파라미터 측정
    염경환 한국전자파학회 논문지 26 (2) : 119 ~ 126 [2015]