-
- 저자 Heo, Yoon-Uk
- 제어번호 101628246
- 학술지명 Applied microscopy
- 권호사항 Vol. 44 No. 4 [ 2014 ]
- 발행처 Korean Society of Microscopy
- 발행처 URL http://www.ksem.or.kr/
- 자료유형 학술저널
- 수록면 144-149
- 언어 English
- 출판년도 2014
- 등재정보 KCI등재
- 판매처
- 주제어 $B_2$ $DO_3$ $L1_2$ Electrondiffractionpattern k-carbide
유사주제 논문( 0)