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- 저자 Kwon, Owoong Kim, Yunseok
- 제어번호 101628242
- 학술지명 Applied microscopy
- 권호사항 Vol. 44 No. 3 [ 2014 ]
- 발행처 Korean Society of Microscopy
- 발행처 URL http://www.ksem.or.kr/
- 자료유형 학술저널
- 수록면 100-104
- 언어 English
- 출판년도 2014
- 등재정보 KCI등재
- 판매처
- 주제어 Atmomicforcemicroscopy Electrostaticforcemicroscopy Kelvin probe force microscopy Surface charge surface potential