논문상세정보
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- 저자 이영주 신해아슬 남대현 연한울 남보애 우규희 주영창 Lee, Young-Joo Shin, Hae-A-Seul Nam, Dae-Hyun Yeon, Han-Wool Nam, Boae Woo, Kyoohee Joo, Young-Chang
- 제어번호 101205383
- 학술지명 마이크로전자 및 패키징학회지
- 권호사항 Vol. 22 No. 1 [ 2015 ]
- 발행처 한국마이크로전자및패키징학회
- 자료유형 학술저널
- 수록면 21-25
- 언어 Korean
- 출판년도 2015
- 등재정보 KCI등재
- 판매처
- 주제어 Bendingendurance fatigue Flexibleinterconnects reliability
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