논문상세정보
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- 저자 정민수 김정규 강희오 황욱중 박영배 Jeong, Minsu Kim, Jeong-Kyu Kang, Hee-Oh Hwang, Wook-Jung Park, Young-Bae
- 제어번호 101204780
- 학술지명 마이크로전자 및 패키징학회지
- 권호사항 Vol. 21 No. 1 [ 2014 ]
- 발행처 한국마이크로전자및패키징학회
- 자료유형 학술저널
- 수록면 45-50
- 언어 Korean
- 출판년도 2014
- 등재정보 KCI등재
- 판매처
- 주제어 4-point bending test CMP Cuinterconnect Thermal Cycle
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