펄스 반복률에 의한 반도체 소자의 오동작 모드와 고장률에 관한 연구

박기훈 방정주 김륙완 허창수 Park, Ki-Hoon Bang, Jeong-Ju Kim, Ruck-Woan Huh, Chang-Su 2015년

논문상세정보

인용/피인용

논문영향력 요약
동일주제 총논문수	논문피인용 총횟수	주제별 논문영향력의 평균
주제	failure rate hpem pulse generator pulse repetition rate solid state device susceptibility
96	0	0.0%

논문영향력
주제		주제별 논문수	주제별 논문영향력
주제어	failure rate	17	0.0%
	hpem	3	0.0%
	pulse generator	1	0.0%
	pulse repetition rate	1	0.0%
	solid state device	1	0.0%
	susceptibility	73	0.0%
계		96	0.0%
* 다른 주제어 보유 논문에서 피인용된 횟수

방호 시설 크기에 따른 전계강도 및 차폐 효과 비교
Bang, Jeong-Ju Choi, Jin-Su Huh, Chang-Su Kang, Ho-Jae Park, Woo-Chul 강호재 박우철 방정주 최진수 허창수 전기전자재료학회논문지 27 (4) : 221 ~ 225 [2014]
다양한 펄스 반복률에서의 NPN BJT (Bipolar Junction Transistor)의 파괴 특성에 관한 연구
Bang, Jeong-Ju Huh, Chang-Su Lee, Jong-Won 방정주 이종원 허창수 전기전자재료학회논문지 27 (3) : 167 ~ 171 [2014]
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