연구동향 분석

디지털방사선시스템에서 IEC표준을 이용한 방사선 영상 품질의 평가

안현(Hyeon An) 김창수(Changsoo Kim) 김정훈(Jung-Hoon Kim) 2015년

논문상세정보
인용/피인용
' 디지털방사선시스템에서 IEC표준을 이용한 방사선 영상 품질의 평가' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • 공학
  • iecradiationquality
  • iec선질
  • mtf
  • nps
  • 변조전달함수
  • 잡음력스펙트럼
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
2,860 0

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' 디지털방사선시스템에서 IEC표준을 이용한 방사선 영상 품질의 평가' 의 참고문헌

  • 평판 X선 영상 시스템 개발에 관한 연구
    신동규 연세대학교 대학원 [2005]
  • 디지털 방사선시스템에서 영상증강 파라미터의 영상특성 평가
    김창수 한국콘텐츠학회 논문지 10 (6) : 329 ~ 335 [2010]
  • The Essential physics of Medical imaging
    Jerold T. Bushberg LIPPINCOTT WILLIAMS & WILKINS : 70 ~ 95 [2012]
  • Intercomparison of methods for image quality characterization. II. noise power spectrum
    J. T. Dobbins III Medical Physics 33 (5) : 1466 ~ 1475 [2006]
  • Intercomparison of methods for image quality characterization : I. modulation transfer function
    E. Samei Medical Physics 33 (5) : 1454 ~ 1465 [2006]
  • IEC62220-1: Medical Electrical Equipment Characteristics of Digital X-Ray Imaging Devices - Part 1, Determination of the Detective Quantum Efficiency
    [2003]
  • IEC 61267 "Medical diagnostic X-ray Equipment Radiation Conditions for use in the Determination of Characteristics,"
    [2005]
  • DR Detector 의 Raw Data 분석을 통한NPS, MTF, DQE 측정과 성능평가연구
    이대형 고려대학교 의용과학대학원 [2008]
  • DQE(f)of four generations of computed radiography acquisition devices
    J. T. Dobbins III Medical Physics 22 (10) : 1581 ~ 1593 [1995]
  • CsI(TI) Indirect Flat Panel Detector의 선질에 따른 물리적 영상 평가
    정회원 방사선기술과학 35 (2) : 109 ~ 117 [2012]
  • CR을 이용한 일반촬영장치의 MTF 측정
    김창복 한국방사선기술연구회지 28 (1) : 111 ~ 115 [2005]
  • CMOS 영상센서를 이용한 디지털 엑스선 영상의 특성평가에 관한 연구
    양한준 명지대학교 대학원 [2008]
  • Amorphous silicon sensor arrays for radiation imaging
    R. A. Street Proceeding Materials Reserch Socitey 192 : 441 ~ 452 [1990]
  • Amorphous silicon flat-panel X-ray Detector versus screen-film Radiography Effect of dose reduction on the Detectability of cortical bone defects and Fractures
    M. Strotzer Invest in Radiology's Future 33 (1) : 33 ~ 38 [1998]
  • Amorphous semiconductors Usher in digital x-ray imaging
    J. Rowlands Physics Today 50 (11) : 24 ~ 30 [1997]