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- 저자 이은영(Eun Young Lee) 박길흠(Kil Houm Park)
- 제어번호 100527807
- 학술지명 한국산업정보학회논문지
- 권호사항 Vol. 20 No. 2 [ 2015 ]
- 발행처 한국산업정보학회
- 자료유형 학술저널
- 수록면 73-83 ( 11쪽)
- 언어 Korean
- 출판년도 2015
- 등재정보 KCI등재
- 판매처 누리미디어
- 주제어 defect detection Defectprobability Sequential detection TFT-LCD 결함 검출 결함 확률 순차적 검출