연구동향 분석

위상 잡음 이론을 적용한 전압 제어 발진기의 전자파 내성 분석

황지수(Jisoo Hwang) 김소영(SoYoung Kim) 2015년

논문상세정보
인용/피인용
' 위상 잡음 이론을 적용한 전압 제어 발진기의 전자파 내성 분석' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • 전자공학
  • electricaloscillator
  • electromagnetic susceptibility
  • impulsesensitivityfunction
  • jitter
  • phase noise
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
2,369 0

0.0%

' 위상 잡음 이론을 적용한 전압 제어 발진기의 전자파 내성 분석' 의 참고문헌

  • 위성통신 시스템용 위상 고정 루프 주파수 합성기의 위상 잡음 예측 모델
    김영완 한국전자파학회 논문지 14 (8) : 777 ~ 786 [2003]
  • USI at SEMICON West 2013
  • The Design of Low Noise Oscillators
    A. Hajimiri Springer [1999]
  • PLL 주파수 합성기에서 발생하는위상잡음의 영향
    조형래 한국전자파학회논문지 12 (6) : 865 ~ 870 [2001]
  • Noise coupling analysis for mixed signal systems
    J. Kim Stanford University [2012]
  • Minimum achievable phase noise of RC oscillators
    R. Navid IEEE J. of Solid-State Circuits 40 (3) : 610 ~ 637 [2005]
  • Jitter in ring oscillators
    J. A. McNeil IEEE J. Solid-State Circuits 32 (6) : 870 ~ 879 [1997]
  • ISO 11452-4 Standard - Road Vehicles-Component Test Methods for Electrical Disturbances From Narrowband Radiated Electromagnetic Energy-Part 4: Bulk Current Injection(BCI)
    [2005]
  • IEC 62132-4, Integrated circuits-measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz-Part 4: Direct RF Power Injection Met
  • IEC 62132-3, Integrated circuits-Measurement of Electromagnetic Immunity - 150 kHz to 1 GHz, Part 3: Bulk Current Injection(BCI) Method
  • Electromagnetic susceptibility analysis of phase noise in VCOs
    J. Hwang The 18th IEEE International Symposium on Consumer Electonics(ISCE 2014) : 293 ~ 294 [2014]
  • A study of oscillator jitter due to supply and substrate noise
    F. Herzel IEEE Trans. on Circuits and Systems-II: Analog and Digital Signal Processing 46 (1) : 56 ~ 62 [1999]
  • A simple model of feedback oscillator noises spectrum
    D. B. Leeson Proc. IEEE 54 : 329 ~ 330 [1966]
  • A general theory of phase noise in electrical oscillators
    A. Hajimiri IEEE J. Solid-State Circuits 33 (2) : 179 ~ 194 [1998]
  • A direct power injection model for immunity prediction in integrated circuits
    A. Alaedline IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility 50 (1) : 52 ~ 62 [2008]