논문상세정보
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- 저자 서형준(H. J. Seo) 김경범(G. B. Kim)
- 제어번호 100319179
- 학술지명 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
- 권호사항 Vol. 2014 No. 10월 [ 2014 ]
- 발행처 한국정밀공학회
- 발행처 URL http://www.kspe.or.kr/
- 자료유형 학술저널
- 수록면 228-229 ( 2쪽)
- 언어 Korean
- 출판년도 2014
- KDC 555
- 판매처 누리미디어
- 주제어 back-propagation defectclassification multi-layer perceptron neural network Silicon wafer
