연구동향 분석

3TPYMB와 MgZnO 나노입자를 사용한 OLED/QLED에서의 Negative Differential Resistance 현상에 관한 연구 = A research on negative differential resistance in OLEDs/QLEDs using 3TPYMB and MgZnO nanoparticles

박다영 2022년

논문상세정보
인용/피인용
' 3TPYMB와 MgZnO 나노입자를 사용한 OLED/QLED에서의 Negative Differential Resistance 현상에 관한 연구 = A research on negative differential resistance in OLEDs/QLEDs using 3TPYMB and MgZnO nanoparticles' 의 주제별 논문영향력
논문영향력 선정 방법
논문영향력 요약
주제
  • 응용 물리
  • Negative Differential Resistance
  • QLED
  • mgzno
  • ndr
  • oled
  • sol-gel
  • 산화물 나노입자
동일주제 총논문수 논문피인용 총횟수 주제별 논문영향력의 평균
1,288 0

0.0%

' 3TPYMB와 MgZnO 나노입자를 사용한 OLED/QLED에서의 Negative Differential Resistance 현상에 관한 연구 = A research on negative differential resistance in OLEDs/QLEDs using 3TPYMB and MgZnO nanoparticles' 의 참고문헌

  • 전자공학회 논문지
  • 대한 전기학회 논문지
  • [9] L. E. Brus, J. Chem. Phys., Vol. 79, p. 5566 (1983)
    [1983]
  • [99] M. Xiao, Y. Lu, Y. Li, L. Zhu, and Z. Ye, J. Alloys Compd., Vol. 616, p. 633 (2014)
    [2014]
  • [98] V. K. Pecharsky and P. Y. Zavalij, Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, 2nd ed., Springer Science+Business Media. (2009)
    [2009]
  • [96] M. Ishii, T. Mori, H. Fujikawa, S. Tokito, Y. Taga, J. Lumin., Vol. 87, p. 1165 (2000)
    [2000]
  • [95] M. Barczak, C. McDonagh, and D. Wencel, Mikrochim. Acta, Vol. 183, p. 2085 (2016)
    [2016]
  • [94] J. D. Mackenzie, J. Non. Cryst. Solids., Vol. 100, p. 162 (1988)
    [1988]
  • [93] L. L. Hench, and J. K. West, Chem. Rev., Vol. 90, p. 33 (1990)
    [1990]
  • [92] R. R. Ajay, and B. Subramanian, Process. Appl. Ceram., Vol. 8, p. 7 (2014)
    [2014]
  • [91] G. V. Aguilar, M. R. J. Fonseca, Á. M. Ramírez, and A. G. J. Gracia, Ch. 10 Photoluminescence Studies on ZnO Thin Films Obtained by Sol-Gel Method in Recent Applications in Sol-Gel Synthesis., IntechOpen (2017)
    [2017]
  • [90] Ali, A., Phull, A.R., and Zia, M., Nanotechnol. Rev., Vol. 7, p. 413 (2018)
    [2018]
  • [8] S. Ummartyotina, J. Juntaro, M. Sain, and H. Manuspiya, Ind. Crops. Prod., Vol. 35, p. 92 (2012)
    [2012]
  • [89] S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo, and T. Steiner, Prog. Mater. Sci., Vol. 50, p. 293 (2005)
    [2005]
  • [88] A. Gajewicz, T. Puzyn, B. Rasulev, D. Leszczynska, and J. Leszczynski, Nanosci. Nanotechnol.-Asia, Vol. 1, p. 53 (2012)
    [2012]
  • [87] M. S. Chavali, and M. P. Nikolova, SN Appl. Sci., Vol. 1 no. 607 (2019)
    [2019]
  • [86] A. S. Teja, and P. Y.Koh, Prog. Cryst. Growth Charact. Mater., Vol. 55, p. 22 (2009)
    [2009]
  • [85] D. K. Sinha, A. Chatterjee, and G. Trivedi, J. Phys.: Conf. Ser., Vol. 759, p. 012099 (2016)
    [2016]
  • [84] S. Yang, P. Liu, S. Guo, L. Zhang, D. Yang, Y. Jiang, and B. Zou, Appl. Phys. Lett., Vol. 104, p. 033301 (2014)
    [2014]
  • [82] He, H., Applications in OLED and QLED in Solution Processed Metal Oxide Thin Films for Electronic Applications, Elsevier 2020, p. 141 (2020)
    [2020]
  • [81] V. Wood, M. J. Panzer, J. E. Halpert, J.M. Caruge, M. G. Bawendi, and V. Bulović, ACS nano., Vol. 3, p. 3581 (2009)
    [2009]
  • [80] J. Kwak, W. K. Bae, D. Lee, I. Park, J. Lim, M. Park, H. Cho, H. Woo, D. Y. Yoon, K. Char, S. Lee, and C. Lee, Nano Lett., Vol. 12, p. 2362 (2012)
    [2012]
  • [7] M. D. J. Auch, O. K. Soo, G. Ewald and S. J. Chua, Thin Solid Films, Vol. 417, p. 47 (2002)
    [2002]
  • [79] B. S. Mashford, M. Stevenson, Z. Popovic, C. Hamilton, Z. Zhou, C. Breen, J. Steckel, V. Bulovic, M. Bawendi, S. Coe-Sullivan, and P. T. Kazlas, Nat. Photonics., Vol. 7, p. 407 (2013)
    [2013]
  • [78] K. S. Cho, E. K. Lee, W. J. Joo, E. J. Jang, T. H. Kim, S. J. Lee, S. J. Kwon, J. Y. Han, B. K. Kim, B. L. Choi, and J. M. Kim, Nat. Photonics., Vol. 3, p. 341 (2009)
    [2009]
  • [77] J. M. Caruge, J. E. Halpert, V. Wood, V. Bulović, and M. G. Bawendi, Nat. Photonics., Vol. 2, p. 247 (2008)
    [2008]
  • [76] K. J. Nordell, E. M. Boatman, and G. C. Lisensky, J. Chem. Educ., Vol. 82, p. 1697 (2005)
    [2005]
  • [75] H. T. Uyeda, I. L. Medintz, J. K. Jaiswal, S. M. Simon, and H. Mattoussi, J. Am. Chem. Soc., Vol. 127, p. 3870 (2005)
    [2005]
  • [74] O. I. Micic, C. J. Curtis, K. M. Jones, J. R. Sprague, and A. J. Nozik, J. Phys. Chem., Vol.98, p. 4966 (1994)
    [1994]
  • [73] S. Coe., W. Woo, M. Bawendi, and V. Bulovic., Nature, Vol. 420, p. 800 (2002)
    [2002]
  • [72] D. Bimberg, N. Kirstaedter, N. N. Ledentsov, Zh. I Alferov, P. S. Kop’ev, and V. M. Ustinov, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron., Vol. 3 p. 196 (1997)
    [1997]
  • [71] F. Pinaud, X. Michalet, L. A. Bentolila, J. M. Tsay, S. Doose, J. J. Li, G. Iyer, and S. Weiss, Biomaterials, Vol. 27, p. 1679 (2006)
    [2006]
  • [70] H. Frederik, X. Xu, H. Wang, S. V. Kershaw, and A. L. Rogach, J. Phys. Chem. Lett., Vol. 2, p. 1879 (2011)
    [2011]
  • [6] Janice K. Mahon, J. Soc. Inf. Disp., Vol. 32, p. 22 (2001)
    [2001]
  • [69] I. Mora-Sero, S. Gimenez, F. Fabregat-Santiago, R. Gomez, Q. Shen, T. Toyoda, and J. Bisquert, Acc. Chem. Res., Vol. 42, p. 1848 (2009)
    [2009]
  • [68] Y. Zhou, H. Zhao, D. Ma, and F. Rosei, Chem. Soc. Rev., Vol. 47, p. 5866 (2018)
    [2018]
  • [67] A. R AbouElhamd, K. A. Al-Sallal, and A. Hassan, Energies, Vol 12, p. 1058 (2019)
    [2019]
  • [66] G. Carlo and I. Ivan, J. Phys. Chem. Lett., Vol. 8, p. 5209 (2017)
    [2017]
  • [65] F. T. Rabouw, and de C. de Mello Donega, Top. Curr. Chem. (Z), Vol. 374 p. 58 (2016)
    [2016]
  • [64] H. S. Hong, K. S. Park, C. G. Lee, B. S. Kim, L. S. Kang, and Y. H. Jin, J. Kor. Powd. Met. Inst., Vol. 19, p. 451 (2012)
    [2012]
  • [63] A. Köhler, and H. Bässler, Mater. Sci. Eng. R Rep., Vol. 66, p. 71 (2009)
    [2009]
  • [62] M. A. Baldo, D. F. O'Brien, Y. You, A. Shoustikov, S. Sibley, M. R. Thompson, and S. R. Forrest, Nature, Vol. 395, p. 151 (1998)
    [1998]
  • [61] C. W. Tang, and S. A. Van Slyke, Appl. Phys. Lett., Vol. 51, p. 913 (1987)
    [1987]
  • [60] P. S. Vincentt, W. A. Barlow, R. A. Hann, and G. G. Roberts, Thin Solid Films, Vol. 94, p. 171 (1982)
    [1982]
  • [5] D.F. O’Brien, M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest., Appl. Phys. Lett., Vol. 74, p. 442 (1999)
    [1999]
  • [59] S. Hayashi, T. T. Wang, S. Matsuoka, and S. Saito, Mol. Cryst. Liq. Cryst., Vol. 135, p. 355 (1986)
    [1986]
  • [58] W. Helfrich, and W. G. Schneider, Phys. Rev. Lett., Vol. 14, p. 299 (1965)
    [1965]
  • [57] M. Niittymaki, K. Lahti, T. Suhonen, and J. Metsajoki, IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul., Vol. 24, p. 499 (2017)
    [2017]
  • [56] A. Jain, P. Kumar, S. C. Jain, V. Kumar, R, Kaur, and R. M. Mehra, J. Appl. Phys., Vol. 102, p. 094505 (2007)
    [2007]
  • [55] Syed A. Moiz, Iqbal. A. Khan, Waheed A. Younis and Khasan S. Karimov, Space Charge-Limited Current Model for Pilymers in Conducting Polymers, IntechOpen, p. 91 (2016)
    [2016]
  • [54] N. F. Mott, R. W. Gurney, Electronic Processes in Ionic Crystals, Oxford University Press: Oxford (1940)
    [1940]
  • [53] J. C. Bernede, J. Chil. Chem. Soc., Vol. 53, p. 1549 (2008)
    [2008]
  • [52] Xie, L. S., Skorupskii, G., and Dincă, M., Chem. Rev., Vol. 120, p. 8536 (2020)
    [2020]
  • [51] I. I. Fishchuk, A. Kadashchuk, X. Li, and J. Genoe, Hopping Model of Charge-Carrier Transport in Organic Nanoparticle Systems in Nanomaterials Imaging Techniques, Surface Studies, and Applications, Springer Proceedings in Physics, p.205 (2013)
    [2013]
  • [50] L. Weicongm and K. Harry, Conduction Mechanisms in Organic Semiconductors, Encyclopedia of Nanotechnology, (2012)
    [2012]
  • [4] S. Hoshino and H. Suzuki, Appl. Phys. Lett., Vol. 69, p. 224–226 (1996).
    [1996]
  • [49] D. M. Pai, J. F. Yanus, and M. Stolka, J. Phys. Chem., Vol. 88, p. 4714 (1984)
    [1984]
  • [47] Y. G. Lee and T. S. Oh, J. acad.-ind. technol., Vol. 23, p.638 (2010)
    [2010]
  • [46] H. N. Lee and T. S. Oh, J. acad.-ind. technol., Vol. 12, p. 4590 (2011)
    [2011]
  • [45] R. K. Sharma, M. Katiyar, I. V. K. Rao, K. N. N. Unni, and Deepak, Phys. Chem. Chem. Phys., Vol. 18, p. 2747 (2016)
    [2016]
  • [44] S. M. Sze, Semiconductor devices, 2nd edition, Wiley Interscience (1981)
    [1981]
  • [43] J. C. Blakesley and N. C. Greenham, J. Appl. Phys., Vol. 106, p. 034507 (2009)
    [2009]
  • [42] W. Brütting, Phys. Status. Solidi. A., Vol. 210, p. 44 (2012)
    [2012]
  • [41] E. Fred Schubert, Chapter 16. Human Eye Sensitivity and Photometric Quantities in Light-Emitting Diodes, Cambridge University Press, p. 275 (2006)
    [2006]
  • [40] Q. Zhang, S. Chen, S. Zhang, W. Shang, L. Liu, M. Wang, H. Yu, L. Deng, G. Qi, L. Wang, S. Han, B. Hu, Q. Kang, Y. Liu, M. Yi, Y. Ma, W. Yang, J. Feng, X. Liu, H. Sun, and W. Huang, J. Mater. Chem. C., Vol. 6, p. 1926 (2018)
  • [3] M. A. Baldo, D. F. O'Brien, Y. You, A. Shoustikov, S. Sibley, M. E. Thompson, and S. R. Forrest., Nature, Vol. 395, p. 151 (1998)
    [1998]
  • [39] M. A. M. Sarjidan., Bull. Mater. Sci., Vol. 38, p. 235 (2015)
    [2015]
  • [38] Y. K. Fang, Y. T. Chiang, S. F. Chen C. Y. Lin, S. C. Hou, C. S. Hung, T. Y. Tsai, S. H. Chang, and T. H. Chou, J. Phys. Chem. Solids., Vol. 69, p. 738 (2008)
    [2008]
  • [37] J. Chen, L. Xu, J. Lin, Y, Geng, L. Wang, and D. Ma, Semicond. Sci., Vol. 21, p. 1121 (2006)
    [2006]
  • [36] S. Zhu, B. Sun, S. Ranjan, X. Zhu, G. Zhou, H. Zhao, S. Mao, H. Wang, Y. Zhao, and G. Fu, APL Mater., Vol. 7, p. 081117 (2019)
    [2019]
  • [35] K. Kazuyoshi, R. Hayakawa, T. Chikyow, and Y. Wakayama, Adv. Electron. Mater., Vol. 3, p.1700106 (2017)
    [2017]
  • [34] S. Y. Quek, J. B. Neaton, M. S. Hybertsen, E. Kaxiras, and S. G. Louie, Phys. Rev. Lett., Vol. 98, p. 066807 (2007)
    [2007]
  • [33] X. Yongqiang, and D. Supriyo., Phys. Rev. B., Vol. 59, p. R7852 (1999)
    [1999]
  • [32] L. Jian, and M. Dongge, J. Appl. Phys., Vol. 103, p. 124505 (2008)
    [2008]
  • [31] J. Chen, L. Xu, J. Lin, Y. Geng, L. Wang, and D. Ma, Appl. Phys. Lett., Vol. 89, p. 083514 (2006)
    [2006]
  • [30] M. Reddy, S. C. Martin, A. C. Molnar, R. E. Muller, R. P. Smith, P. H. Siegel, M. J. Mondry, M. J. W. Rodwell, H. Kroemer, and S. J. Allen, IEEE Electron Device Lett., Vol. 18, p. 218, (1997)
    [1997]
  • [2] J. Kido, M. Kimura and K. Nagai, Science, 267, p. 1332 (1995)
    [1995]
  • [29] Craig T. Van Oegrift, Rev. Sci. Instrum., Vol. 46, p. 599, (1975)
    [1975]
  • [28] E. Leo, Phys. Rev., Vol. 109, p. 603 (1958)
    [1958]
  • [27] U. G Akpan and B. H. Hameed, Appl. Catal. A: Gen., Vol. 375, p. 1 (2010)
    [2010]
  • [26] H. Liu, W. Yang, Y. Ma, Y. Cao, J. Yao, J. Zhang, and T. Hu, Langmuir, Vol. 19, p. 3001 (2003)
    [2003]
  • [25] L. L. Hench, and J. K. West, Chem. Rev., Vol. 90, p. 33 (1990)
    [1990]
  • [24] A. Kaushal and Davinder Kaur, Sol. Energ. Mat. Sol. C., Vol. 93, p.193 (2009)
    [2009]
  • [23] Y. Sun, Y. Jiang, H. Peng, J. Wei, S. Zhang, and S. Chen, Nanoscale, Vol. 9, p. 8962 (2017)
    [2017]
  • [22] S. Cao, J. Zheng, J. Zha, Z. Yang, C. Li, X. Guan, W. Yang, M. Shang, and T. Wu, ACS Appl. Mater. Interfaces, Vol. 9, p. 15605 (2017)
    [2017]
  • [21] L. Qian, Y. Zheng, J. Xue, and P. H. Holloway, Nat. Photon., Vol. 5, p. 543 (2011)
    [2011]
  • [20] T. H. Kim, K. S. Cho, E. K. Lee, S. J. Lee, J. Chae, J. W. Kim, D. H. Kim, J. Y. Kwon, G. Amaratunga, S. Y. Lee, B. L. Choi, Y. Kuk, J. M. Kim, and K. Kim, Nat. Photon., Vol. 5, p. 176 (2011)
    [2011]
  • [1] C.W. Tang, C.H. Chen and S.A. VanSlyke, J. Appl. Phys., Vol. 65, p. 3610 (1989)
    [1989]
  • [19] X. Dai, Z. Zhang, Y. Jin, Y, Niu, H. Cao, X. Liang, L. Chen, J. Wang, and X. Peng, Nature, Vol. 515, p. 96 (2014)
    [2014]
  • [18] J. Kwak, W. K. Bae, D. Lee, I. Park, J. Lim, M. Park, H. Cho, H. Woo, D. Y. Yoon, K. Char, S. Lee, and C. Lee, Nano Lett., Vol. 12, p. 2362 (2012)
    [2012]
  • [17] V. L. Colvin, M. C. Schlamp, and A. P. Alivisatos, Nature, Vol. 370, p. 354 (1994)
    [1994]
  • [16] S. Baskoutas and A. F. Terzis, J. Appl. Phys., Vol. 99, p. 013708 (2006)
    [2006]
  • [15] I. Moreels, K. Lambert, and D. Smeets, ACS Nano, Vol. 3, p. 3023 (2009)
    [2009]
  • [14] D. V. Talapin, J. S. Lee, M. V. Kovalenko, and E. V. Shevchenko, Chem. Rev., Vol. 110, p. 389 (2010)
    [2010]
  • [12] C. B. Murray, C. R. Kagan, and M. Bawendi, Annu. Rev. Mater. Sci., Vol. 30, p. 545 (2000)
    [2000]
  • [11] J. Wang, I, Mora-Seró, Z. Pan, K. Zhao, H. Zhang, Y. Feng, G. Yang, X. Zhong, and J. Bisquert, J. Am. Chem. Soc., Vol. 135, p. 15913 (2013)
    [2013]
  • [10] L. E. Brus, J. Chem. Phys., Vol. 80, p. 4403 (1984)
    [1984]
  • [104] L.A. Dobrzanski, M. Szindler, J. Achieve. Mater. Manuf. Eng., Vol. 52, p. 7 (2012)
    [2012]
  • [103] R. Yousefi, AK Zak, F Jamali-Sheini, Mat. Sci. Semicond. Processing., Vol. 16, p. 771 (2013)
    [2013]
  • [102] C. Abed, C. Bouzidi, H. Elhouichet, B. Gelloz, and M. Ferid, Appl. Surf. Sci., Vol. 349, p. 855 (2015)
    [2015]
  • [101] H. Zeng, G. Duan, Y. Li, S. Yang, X. Xu, and W. Cai, Adv. Funct. Mater., Vol. 20 p. 561 (2010)
    [2010]
  • [100] Y. Hu, B. Cai, Z. Hu, Y. Liu, S. Zhang, and H. Zeng, Curr. Appl. Phys., Vol. 15, p. 423 (2015)
    [2015]
  • Nature
    T. Sakanoue , H. Sirringhaus , Vol . 9 , p. 736 [2010]
  • Information Display 1/13