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협대역 고출력 전자기파로 인한 CMOS IC에서의 오동작 특성 연구
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Huh, Chang-Su
허창수
이성우
서창수
박진욱
Seo, Chang-Su
Park, Jin-Wook
Lee, Sung-Woo
한국전기전자재료학회[2016]
Google Scholar네이버 전문정보
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협대역 고출력 전자기파에 의한 CMOS IC의 전기적 특성 분석
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Huh, Chang-Su
허창수
이성우
서창수
박진욱
Seo, Chang-Su
Park, Jin-Wook
Lee, Sung-Woo
한국전기전자재료학회[2017]
Google Scholar네이버 전문정보
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IEMI 복사에 의한 네트워크 통신 장비의 취약성 분석
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Huh, Chang-Su
허창수
진인영
이성우
서창수
Seo, Chang-Su
Lee, Sung-Woo
Jin, In-Young
한국전기전자재료학회[2018]
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협대역 고출력 전자기파에 의한 포토커플러 영향 분석
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Huh, Chang-Su
허창수
진인영
이성우
서창수
Seo, Chang-Su
Lee, Sung-Woo
Jin, In-Young
한국전기전자재료학회[2018]
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