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인기 연구 키워드 :
인기 활용 키워드 :
A Function-Based Knowledge Base for Technology Intelligence
Janghyeok Yoon
Namuk Ko
Jonghwa Kim
Jae-Min Lee
Byoung-Youl Coh
Inseok Song
2015년
활용도 Analysis
논문 Analysis
연구자 Analysis
활용도 Analysis
논문 Analysis
연구자 Analysis
Janghyeok Yoon
Namuk Ko
Jonghwa Kim
Jae-Min Lee
Byoung-Youl Coh
Inseok Song
연구자명
연구자명
연구자명
활용도
공유도
영향력
연구자정보
저자
Jonghwa Kim
발표논문(3)
발표논문 보기→
공동연구자(16)
Dae Hwan Kim
2건
Dong Myong Kim
2건
Jungmok Kim
2건
Sungju Choi
2건
Byoung-Youl Coh
1건
Ho-Young Cha
1건
Hyungtak Kim
1건
Inseok Song
1건
Jae-Min Lee
1건
Jaeman Jang
1건
Janghyeok Yoon
1건
Jun Tae Jang
1건
Namuk Ko
1건
Sung-Jin Choi
1건
Sung-Jin Choi
1건
Young Jin KANG
1건
유사연구자 (20)
※활용도순 상위 20명
Bae, Sung Bum
1건
Cha, Ho Young
1건
Dongmin Keum
1건
Hyungtak Kim
1건
Kang, Dong Min
1건
Kim, Jeong Jin
1건
Lee, Hyeong Seok
1건
Lee, JaeGil
1건
Lim, Jong Won
1건
Sungju Choi
1건
Yang, Jeon Wook
1건
Young Jin KANG
1건
강동민
1건
김동석
1건
김정진
1건
배성범
1건
양전욱
1건
이형석
1건
임종원
1건
차호영
1건
공동연구/유사연구
Jonghwa Kim
'Jonghwa Kim'의 연구자 점유율
논문점유율 요약
동일주제 총논문수
주제별 연구자 총논문수
연구자점유율(주제별 연구자점유율의 평균)
6,018
17
49.4%
자세히
연구자 점유율
주제
주제별 논문수
주제별 연구자논문수
주제별 연구자점유율
주제분류(KDC/DDC)
공학, 공업일반
5,595
1
0.0%
주제어
algan/gan hfets
1
1
100.0%
donor-state
1
1
100.0%
frequency-dependentc-v.
1
1
100.0%
function-basedknowledgebase
1
1
100.0%
gate-recessed
1
1
100.0%
product-function-technology r ...
1
1
100.0%
holetrapping
2
1
50.0%
positive bias stress
2
1
50.0%
technology intelligence
3
1
33.3%
thin-film transistors
3
1
33.3%
inzno
4
1
25.0%
self-heating
4
1
25.0%
normally-off
7
1
14.3%
interfacetrapdensity
13
1
7.7%
patent
184
1
0.5%
textmining
195
1
0.5%
계
6,018
17
* 주제로 분류 되지 않은 논문건수
0
닫기
연구주제 Time-line
'Jonghwa Kim'
의 발표논문(3)
A Function-Based Knowledge Base for Technology Intelligence
Byoung-Youl Coh
Namuk Ko
Jonghwa Kim
Janghyeok Yoon
Jae-Min Lee
Inseok Song
대한산업공학회
[2015]
Frequency-dependent C-V Characteristic-based Extraction of Interface Trap Density in Normally-off Gate-recessed AlGaN/GaN Heterojunction Field-effect Transistors
Dae Hwan Kim
Young Jin KANG
Sungju Choi
Sung-Jin Choi
Jungmok Kim
Jonghwa Kim
Hyungtak Kim
Ho-Young Cha
Dong Myong Kim
대한전자공학회
[2015]
Analysis of Instability Mechanism under Simultaneous Positive Gate and Drain Bias Stress in Self-Aligned Top-Gate Amorphous Indium-Zinc-Oxide Thin-Film Transistors
Dae Hwan Kim
Sungju Choi
Sung-Jin Choi
Jungmok Kim
Jun Tae Jang
Jonghwa Kim
Jaeman Jang
Dong Myong Kim
대한전자공학회
[2015]